共封裝光學測試邏輯:已知良品需求推升與產業雙重折價
- —共封裝光學將光引擎與交換晶片、GPU 封裝在一起,因雷射器故障率最高且無法抽換,倒逼廠商必須在封裝前進行晶圓測試以確保已知良品。
- —光通訊測試設備雖然無需押注特定封裝路線,但各廠相關業務純度有限,且共封裝光學放量時點落於 2027 至 2028 年,測試營收轉化仍需時間。
封裝複雜度提升帶動晶圓與模組測試需求前置,測試環節無論傳統光模組或共封裝光學勝出皆能受惠。惟大規模放量時間點落於 2027 至 2028 年,且需考量設備週期性與客戶擴產節奏。共封裝光學技術迭代確定推升測試需求量體,具備跨架構受惠優勢但長期放量節奏仍須時間驗證